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      菲希爾黃金鍍層測厚儀信息
      點擊次數:55 更新時間:2025-04-27 打印本頁面 返回

      菲希爾X射線GOLDSCOPE SD特點

      1. 緊湊耐用設計
        采用臺式設計,結構緊湊且堅固,適合長期使用,符合EN 61010、DIN ISO 3497和ASTM B 568等國際標準。

      2. X射線熒光技術優化
        硬件和軟件專為黃金及貴金屬分析優化,采用X射線熒光(XRF)技術,無需樣品制備,實現無損、快速(典型測試時間5秒)且高精度分析。

      3. 型號與探測器差異

        • SD 510/SD 515:配備硅PIN探測器,適合快速檢測,適用于當鋪、黃金買賣和小型實驗室。

        • SD 520/SD 550:配備硅漂移探測器(SDD),分辨率更高(≤180eV),尤其擅長測量相近元素(如鉑族金屬),SD 550還支持多濾波器和準直器切換,適應復雜需求。

      4. 便捷操作設計

        • 測量艙寬敞(最大樣品高度90mm),支持自下而上的測量方向,透明窗口便于觀察,集成視頻顯微鏡輔助精準定位測量點。

        • 操作簡單:開艙放置樣品后,一鍵啟動即可完成分析。

      5. 軟件支持
        預裝FISCHER WinFTM®軟件,內置貴金屬分析程序,支持數據管理、報告生成及自定義測試任務,優化工作流程


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