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      菲希爾X射線測厚儀XDL210 鍍銀層測厚儀信息
      點擊次數:61 更新時間:2025-04-29 打印本頁面 返回

      菲希爾XDL210 X射線測厚儀核心產品特點

      FISCHERSCOPE XDL 憑借性能,成為工業檢測領域的理想之選。其具備強大的 DCM 功能,支持 0-80mm 遠距離測量,即使在復雜環境下也能精準獲取數據;固定光圈與濾光鏡設計,確保測量結果穩定可靠。專為微小尺寸測量優化,可實現 1mm 以上測量點的精確檢測,底部 C 型開槽的大容量測量艙,能輕松容納各類待測工件。作為可編程臺式設備,FISCHERSCOPE XDL 可自動化完成多批次測量任務,搭配標準 X 射線管與比例計數器,顯著提升測量效率與準確性。

      多元應用領域

      在大規模電鍍生產中,FISCHERSCOPE XDL 可快速檢測電鍍零件的鍍層厚度,保障產品質量一致性;于防腐與裝飾鍍層領域,精準測定鎳 / 銅基底上鉻層厚度,為表面處理工藝提供關鍵數據支持。在電鍍液分析環節,儀器能高效評估成分比例,助力優化電鍍流程。此外,在黃金、珠寶及鐘表行業,FISCHERSCOPE XDL 可準確檢測貴金屬鍍層,為產品真偽鑒定與品質把控提供科學依據 。


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