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      菲希爾、XDL230 鍍金層測厚儀信息
      點擊次數:149 更新時間:2025-05-31 打印本頁面 返回

      德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230,德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230操作說明書,德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230,德國菲希爾X射線膜厚儀。

      X射線鍍層測厚儀簡介:

      FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。菲希爾XDL230有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。

      由于采用了FISCHER基本參數法,因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。XDL 230特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

      鍍金層測厚儀菲希爾代理典型的應用領域有:

      • 測量大規模生產的電鍍部件

      • 測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻

      • 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

      • 測量印刷線路板

      • 分析電鍍溶液


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