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      菲希爾金屬X射線測厚儀簡介
      點擊次數:94 更新時間:2025-06-09 打印本頁面 返回

      菲希爾 X 射線測厚儀XDL230憑借高精度與可靠性,在多個工業領域發揮關鍵作用。其典型應用場景包括大規模生產的電鍍部件厚度檢測,裝飾鉻等超薄涂層的精確測量,電子及半導體工業功能性鍍層的質量把控,印刷線路板的全自動快速測量,以及電鍍溶液成分分析。

      FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是專為滿足多樣化需求設計的界面友好型臺式測量儀器,依據使用場景不同,推出了多種型號。其中,XDL 210 型配備固定式工作臺與固定位置的 Z 軸系統;XDL 220 型同樣為固定式工作臺,但采用了馬達驅動的 Z 軸系統,提升操作便利性;XDL 230 型搭載可手動操控的 X/Y 工作臺,搭配馬達驅動的 Z 軸升降系統,適用于更復雜的測量需求;XDL 240 型則擁有全自動化優勢,其馬達驅動的 X/Y 工作臺在保護門開啟時,會自動移動至樣品放置位置,且配備可編程的馬達驅動 Z 軸升降系統,極大提高了測量效率與自動化程度 。


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