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泰勒霍普森粗糙度儀DUO應用信息
點擊次數：95 更新時間：2025-06-11 打印本頁面 返回
Surtronic DUO 是英國泰勒霍普森（Taylor Hobson）推出的高精度便攜式表面粗糙度測量儀，基于接觸式測量原理，通過金剛石測針與被測表面的精確接觸，實現對工件表面微觀幾何特征的量化分析。該設備融合先進的傳感器技術與智能算法，適用于生產現場、實驗室及計量檢測等多場景，滿足 ISO、ASME 等國際標準對表面粗糙度的測量要求。
核心技術特性
1. 多元參數測量能力
支持測量20 + 項粗糙度參數，覆蓋輪廓參數（如：
幅度參數：算術平均偏差 Ra、輪廓最大高度 Rz（ISO 4287）/ Rt（ASME B46.1）、均方根偏差 Rq
功能參數：輪廓支承長度率 Rmr(c)、偏斜度 Rsk、陡峭度 Rku
原始輪廓參數：Pa、Pz（適用于精密加工表面分析）
等），可滿足從基礎質量控制到復雜表面功能特性評估的多樣化需求。
