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      Couloscope CMS2庫侖法測厚儀數(shù)據(jù)參數(shù)

      Couloscope CMS2庫侖法測厚儀數(shù)據(jù)參數(shù)

      更新時間:2024-09-21
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      Couloscope CMS2庫侖法測厚儀數(shù)據(jù)參數(shù)
      可用于測量:
      Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金屬
      基材可為 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金屬材料等

      Couloscope CMS2庫侖法測厚儀數(shù)據(jù)參數(shù)的詳細(xì)資料:

      品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區(qū)間面議
      產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件

      Couloscope CMS2庫侖法測厚儀數(shù)據(jù)參數(shù)
      COULOSCOPE CMS STEP庫倫法電解測厚儀簡單介紹:
      COULOSCOPE CMS (庫侖測量系統(tǒng))使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一個大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統(tǒng),該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測試方法的場合。
      COULOSCOPE CMS地測量范圍在0.05 - 40 µm (0.002 - 1.6 mils)之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用,從單鍍層,例如鋅在鋼上,直至三鍍層,例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。
      COULOSCOPE CMS STEP:
      用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個單個的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。在電鍍工業(yè)中,對多層鎳的測量變得越來越重要了,雙層鎳的測量已成為一種標(biāo)準(zhǔn)的操作。
      Couloscope CMS2庫侖法測厚儀數(shù)據(jù)參數(shù)

      篤摯引用的良好技術(shù)和管理經(jīng)驗,建全完善了管理制度,對產(chǎn)品質(zhì)量和售前、售后進(jìn)行嚴(yán)格的管控,持續(xù)地提高了公司的產(chǎn)品和服務(wù)質(zhì)量,贏得了顧客的信賴,使篤摯產(chǎn)品的供應(yīng)量在國內(nèi)各大城市以及市場迅猛增長,并取得業(yè)界好評。

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